工業控制網絡與系統研究室副研究員王鍇接受獲獎證書

　　8月16日至19日，2013年IEEE 國際電子測量與儀器學術會議（IEEE International Conference on Electronic Measurement & Instruments, 以下簡稱IEEE ICEMI）在哈爾濱召開。本次會議上，中國科學院沈陽自動化研究所工業控制網絡與系統研究室副研究員王鍇和研究員徐皚冬等合作的論文Assessment of the Effect of Common Cause Failure and Diversity on Diagnostic Coverage of a Self-checking Pair脫穎而出，獲與會專家好評并最終獲得2013 IEEE ICEMI優秀學術報告一等獎。 

　　該論文的核心思想是建立了一種新穎的安全儀表系統不完全覆蓋及共因失效混合模型，首次對冗余組件之間的差異、系統共因失效率以及診斷覆蓋率之間的數學關系展開研究。研究結果對于進一步安全儀表系統可靠性評估結果的準確性有重要意義。 

　　IEEE ICEMI是電子測量與儀器領域內最具影響力的國際會議，每兩年舉辦一次。本次會議由IEEE和中國電子學會共同主辦，協辦單位為美國CMG學會，承辦單位為哈爾濱工業大學等。會議主題包括：工業自動化測量與控制、組件與系統可靠性、容錯控制與故障診斷、設備健康管理、測試測量儀器、測量軟件系統及應用等。大會收到了來自中國、美國、加拿大、澳大利亞、英國、日本等多個國家和地區的636篇論文。經過嚴格的同行評議，最終僅有226篇論文被收錄至IEEE論文集，錄取率為35.5%。 

　　近年來，沈陽自動化所積極鼓勵科研人員參加高水平國際學術會議，開拓學術視野和促進學術交流，使科研人員學術能力和基礎研究水平不斷提高。近年來，沈陽自動化先后有多篇論文在學術會議上獲獎，擴大了沈陽自動化所研究成果的國際影響力。（工業控制網絡與系統研究室）